High-performance FT-IR metrology tool for 100 mm to 200 mm wafers
High-performance FT-IR metrology tool for 200 mm SMIF carriers
High-performance FT-IR metrology tool for automated 300 mm wafer handling
Completely integrated wafer profiling stage with FT-IR spectrometer & software
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2012年5月16日，中国上海 – 全球科学服务领域的领导者赛默飞世尔科技，近日宣布推出业内首台一键式操作智能研究级红外光谱仪——赛默飞Nicolet iS50红外光谱仪。
2012年5月15日，中国上海 —服务科学领域的世界领导者赛默飞世尔科技作为生命科学领域高端仪器的主要供应商，近日参加了第六届亚太人类蛋白质组(AOHUPO)大会。
2012年5月9日 ——服务科学的世界领导者赛默飞世尔科技，近日发布新一代赛默飞 SOLA 固相萃取 (SPE) 小柱和提取板产品，提供卓越的重现性、回收率和更洁净的实验结果。
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严正声明：关于一些公司非法销售赛默飞辐射测量和安全产品的声明
网络讲堂：Antaris II 近红外光谱仪在制药企业原辅料鉴别中的应用
赛默飞世尔科技将在香港举办实验室管理信息管理系统研讨会
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